半導體測試探針臺是一款適用于4-6英寸晶圓測試的基本型探針臺，結構緊湊，配置豐富，可搭配中體式或視頻顯微鏡，實用且性價比高，非常適合高校、研究機構、半導體工廠等實驗室的半導體測試應用，模塊化結構設計，支持后期靈活擴展升級。

半導體測試探針臺產品特點

◆帶卡盤快速拖出機構，方便晶圓上下片

◆卡盤可360°旋轉及小角度微調

◆采用雙臂萬向顯微鏡支架，可360°*旋轉或前后快速移動顯微鏡，方便快速定位任意針測位置

◆卡盤平移臺采用精密絲桿傳動結構，無回程差設計，定位精準

◆全新表面處理針座平臺，摩擦力大，針座吸附更穩(wěn)定

◆卡盤可選鍍金卡盤、高溫卡盤、陶瓷卡盤、高透石英玻璃等

◆兼容連續(xù)變倍體視顯微鏡或視頻顯微鏡

◆臺面可個性化定制，滿足特殊測試需求

◆可集成光電流掃描成像或拉曼-瞬態(tài)熒光壽命成像系統

◆模塊化設計，方便后期功能擴展升級

應用方向

晶圓/樣片/分立器件/晶體管/納米器件/功率器件測試；封裝器件/PCB板測試；LED/PD/LD光電材料/器件的測試、可靠性分析或失效分析；30微米以上電極/PAD測試；I/V、C/V、C/F、射頻S參數、有源測試、耐壓測試、ESD測試、混合參數測試等

目前公司已研發(fā)生產產品十多個系列幾十款產品，產品囊括實驗電爐   CVD供氣系統   等離子清洗機   小型離子濺射儀   小型蒸鍍儀  石英管真空封口   半導體等。 主要適用于科研院校及工礦企業(yè)在新材料、新能源等領域物理特性及化學特性的研究，廣銷于各大院校，及材料研究所。

    公司與國內高校，科研院所有多層次的合作關系，建有開放實驗室，相關領域的教授、工程師、博士參與公司產品的研究和開發(fā)。我們秉承公司的發(fā)展理念，依靠嚴謹的技術研發(fā)能力，科學合理的生產工藝，精益求精的制造要求，全心全意做好產品質量和服務工作，科探儀器時刻懷著一顆真誠的心期待與您的合作。