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產(chǎn)品中心

Product Center
  • KT-Z160T-RL精密氣浮臺高低溫真空探針臺

    精密氣浮臺高低溫真空探針臺,600x600x200mm氣震臺,減震效果達97%,真空高低溫探針臺,凹視觀察窗,高精度探針滑臺。

    更新時間:2024-03-27
    產(chǎn)品型號:KT-Z160T-RL
    瀏覽量:1164
  • KT-Z4019MRL4T小型氣敏探針臺

    小型氣敏探針臺KT-Z4019MRL4T,4探針手動調(diào)節(jié),純銀加熱臺,-196℃至350℃(溫控精確±0.5)

    更新時間:2024-03-29
    產(chǎn)品型號:KT-Z4019MRL4T
    瀏覽量:1252
  • KT-Z4019MRL4T微型高低溫探針臺

    微型高低溫探針臺KT-Z4019MRL4T結(jié)構(gòu)緊湊,適用于各種變溫測試。-196℃~400℃(配液氮致冷模塊)氣密腔室設計,可通保護氣氛

    更新時間:2024-03-29
    產(chǎn)品型號:KT-Z4019MRL4T
    瀏覽量:1197
  • KT-Z160TZ真空探針臺

    真空探針臺KT-Z160TZ,高溫真空腔探針系統(tǒng)主要用于為被測芯片提供一個低溫或者高溫的變溫測量環(huán)境,以便測量分析溫度變化時芯片性能參數(shù)的變化。腔體內(nèi)被測芯片在真空環(huán)境中有效避免易受氧化半導體器件接觸空氣所帶來的測試結(jié)果誤差。

    更新時間:2024-03-29
    產(chǎn)品型號:KT-Z160TZ
    瀏覽量:1213
  • KT-Z1604TZ高溫真空探針臺

    高溫真空探針臺KT-Z1604TZ,可單選高溫或低溫等相應組件,溫度可達到400℃。以便測量分析溫度變化時芯片性能參數(shù)的變化。腔體內(nèi)被測芯片在真空環(huán)境中有效避免易受氧化半導體器件接觸空氣所帶來的測試結(jié)果誤差。

    更新時間:2024-03-29
    產(chǎn)品型號:KT-Z1604TZ
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